HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)

ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測(cè)試方案l 測(cè)試效率高，自動(dòng)探針臺(tái)和晶圓映射程序啟用了全自動(dòng)晶圓級(jí)ESD測(cè)試l 同時(shí)支持package測(cè)試l 配備CCD相機(jī)l 可以與Hanwa TLP測(cè)試儀，HED-T5000和T5000VFl Woks 集成在一起，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級(jí)測(cè)試儀。l SCM（10pF浪涌）選項(xiàng)可用。公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品